IC测试技术将进入新的阶段 (2)

　　
　　五、嵌入核测试标准急需系统推出
　　
　　现在芯片设计的一个重点是系统级芯片。这种IC将重复使用已设计好的功能复杂的电路模块，即嵌入核，也称为IP模块或虚拟部件。对包括两个或多个厂商提供的嵌入核的IC的可测性来说，还没有一个标准。每一个核提供商都在其产品上设计了一些可测性电路。然而，如果没有单独定义的、公开的可测性设计方法，核集成商不能自动检测每一核的可测性，也不能对它们进行集成; IEEEP1500是测试嵌入核的推荐标准。它已正式称为基于嵌入核的IC的P1500标准可测性方法。P1500工作组为重复使用IP模块的IC制定了一个标准可测性方法。该标准的概念在于具有独立性，即嵌入核具有自测试电路，在功能上与整个IC或其它嵌入核无关。
　　
　　IEEEP1500的目的是确定检测与诊断这类IC故障的可测性要求，同时使不同厂商提供的核易于交互。可测性设计方法的结果是自动识别和配置含嵌入式核的IC的可测性特性。该方法适合各类数字嵌入式核。
　　
　　P1500努力的关键不是标准化核的测试方法，而是标准化核的测试语言（CTL）和测试核的壳（wrapper）。核测试语言与标准测试接口语言有许多相同的基本原理。它为核提供商向核集成商提供了一个正式的传递方式。对每一种核可供利用的信息有测试方法、限制条件、故障覆盖率和图形信息等。
　　
　　P1500特别工作组已解决了有关技术问题，并将通过测试实例来进行验证。β测试计划正在制定中。有关该语言的正式文件已于1999年12月发布。基本部分是可配置的，可升级的壳。通过与芯片上的测试接入部分连接，壳使系统级芯片中的核测试变得极为容易。这样，通过指令寄存器进行测试方式转换，壳可以进行内部测试、外部测试和诊断。
　　
　　壳和指令寄存器都是P1500结构特别工作组的“作品”，其目标是使核测试标准化：
　　
　　●确定系统级芯片与嵌入核之间的测试接口；
　　
　　●通过核的接入和隔离，测试重复使用的核，包括逻辑电路的可测性和内部的互连；
　　
　　●采用即插即用协议，增加核测试的交互作用，从而提供核供货商与用户的测试效率。最终，核测试方法由核供应商确定。IEEE1500支持几种测试方法，如扫描测试、内部自测试和IDDQ（静态电流）测试。但是，核的集成商确定系统级芯片的测试接入机制。P1500标准确定了用于系统级芯片上的核的接入与隔离的核测试机制。
　　
　　六、满足急需的工业规范应不断地及时推出
　　
　　正式标准要等很长的时间才能制定出来。如制定混合信号测试总线就用了8年。在工业界，早上市是成功的关键。无测试标准的情况不能再延续下去了。1999年7月，VSI（虚拟插座接口）联盟发布了一系列规范，希望它能填补发布IEEE1500之前的空白。事实上，VSI联盟工作组包括了制定IEEE1500标准的公司。
　　
　　VSI联盟的这一规范有一个笨拙的名称：《测试数据交换格式和虚拟部件提供商准则1.0版本》。当虚拟部件（IP模块）提供商与测试集成商之间进行数据交换时，什么信息应采用什么格式是工业界试图确定的。目的是为了能测试包含不同厂商提供的核的系统级芯片。
　　
　　该规范集扩展了联盟结构文件中有关测试的信息。它详细地说明了IP模块提供商应提供的测试和可测性设计指标。提供的信息包括核测试策略、可测性、可测性设计方法、隔离技术、协议等方面的数据，但没提到与虚拟部件有关的测试矢量和协议等信息。通过确定这些提供的信息，核的提供商将向测试集成商提供开发整个系统级芯片测试程序的测试数据。
　　
　　该标准甚至建议使用表格形式来规范提供的信息。为了避免术语造成的混淆，还包括了涉及一系列可测性设计准则和标准的通用测试术语。VSI联盟制造测试工作组对该规范的进一步修改将满足嵌入核集成商与测试工程师之间进行信息传输的需要。修改后，这些规范有助于测试工程师选择适合的测试设备，也有助于测试工程师评估自动测试设备的速率、精度、定时灵活性、测试成本和有效性。